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硅材料綜合測(cè)試儀 方塊電阻測(cè)試儀 型號(hào):JX2011

更新時(shí)間:2015-05-29      點(diǎn)擊次數(shù):559

硅材料綜合測(cè)試儀  方塊電阻測(cè)試儀   型號(hào):JX2011

 

一、產(chǎn)品特點(diǎn)
1.儀器采用AC100-240V交流電源供電。
2.檢測(cè)硅半導(dǎo)體材料的電阻率\方塊電阻和PN型號(hào)兩項(xiàng)指標(biāo)。
3.擁有很高的電阻率測(cè)試分辨率, zui小可到0.00001Ω﹡㎝。
4.寬范圍自動(dòng)量程切換, 電阻率0.00001Ω﹡cm-10000Ω﹡cm
5.能的分辨電阻率在0.01Ω﹡cm-1000Ω﹡cm的硅材料PN型號(hào)。
二、推薦工作條件
1. 溫度:23±2℃
2. 濕度:60%~70%
3. 無(wú)強(qiáng)光照、無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近
三、參數(shù)指標(biāo)
1.整機(jī)尺寸:260mm×245mm×110mm
2.探頭1:四探針
3.探頭2:三探針
4.電阻率量程:0.00001~10000Ω﹡㎝;誤差范圍:±5%
5.P/N檢測(cè):硅材料電阻率滿(mǎn)足0.005-500Ω﹡㎝

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